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原子力顯微鏡與光學顯微鏡和電子顯微鏡等的區(qū)別 - 分析行業(yè)新聞
來源： | 發(fā)布日期：2023-01-20 16:07
　

　　原子力顯微鏡與光學顯微鏡和電子顯微鏡等競爭技術的主要區(qū)別在于原子力顯微鏡不使用透鏡或光束照射。 因此，它不會因衍射和像差而受到空間分辨率的限制，并且不需要準備用于引導光束(通過產(chǎn)生真空)和對樣品 ??????y????????V3910 染色的空間。

　　掃描顯微鏡有幾種類型，包括掃描探針顯微鏡(包括AFM、掃描隧道顯微鏡(STM)和近場掃描光學顯微鏡(SNOM/NSOM)、STED顯微鏡(STED)，以及掃描電子顯微鏡和電化學原子力顯微鏡EC-AFM)。盡管SNOM和STED使用可見光、紅外線甚至太赫茲光照射樣品，但它們的分辨率不受衍射極限的限制。

【本文標簽】

【責任編輯】微儀顯微鏡

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