◆性能特點(diǎn)：
小型化及可拆卸化設(shè)計(jì)，非常便于攜帶及課堂教學(xué)。

檢測(cè)頭和樣品掃描臺(tái)集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強(qiáng)。
單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描。
馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品。
側(cè)面CCD觀察系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀察探針進(jìn)針狀態(tài)與定位探針樣品掃描區(qū)域。
彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，防震效果好。
集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%。

◆測(cè)量范圍及應(yīng)用：

測(cè)量范圍：二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應(yīng)用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測(cè)試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

應(yīng)用案例 Application Case